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SSER(SYSTEM SOFT ERROR RATE TEST)
2013-09-22 | 编辑: | 【 【打印】【关闭】

  系统暂时性失效比率测试 Soft Error为所有发挥性组件之共有特性。对DRAM而言,每记忆细胞(Memory Cell)所存电荷(charge-to-sense)存在一刻开关的接面(junction),以空乏(depleted)的状态存在。当该细胞有高能粒子源(e.g. α-particle From molding compound),使所存电荷消失或减少到无法侦测时,该细胞便暂时消失。



 
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