收藏本站  |  English  |  中国科学院
  首页 所况介绍 机构设置 科研成果 研究队伍 招生招聘 创新文化 科学传播 研究生培养 党群园地 产业体系  
 
       
    科普首页
    微电子历史
    行业动态
    术语解释
    无微不至
    芯片制程
    科普创意

 

  现在位置:首页 > 科学传播 > 术语解释  
 
术语解释
 
 
EM(ELECTRO MIGRATION TEST) [2013-09-22]
ELLIPSOMETER [2013-09-22]
ELECTRON/HOLE [2013-09-22]
ELECTROMIGRATION [2013-09-22]
EFR(EARLY FAILURE RATE) [2013-09-22]
E-BEAM LITHOGRAPHY [2013-09-22]
DRIVE IN [2013-09-22]
DRAM、SRAM [2013-09-22]
蓝牙技术 [2013-09-22]
半导体存储卡 [2013-09-22]
纳米材料 [2013-09-22]
片式元器件与片状元器件 [2012-03-12]
MPW [2012-03-12]
亚微米技术 [2012-03-12]
栅距 [2009-09-25]
点距 [2009-09-25]
端口 [2009-09-25]
USB2.0 [2009-09-25]
 
     
  共7页  首页上一页12345下一页下5页尾页  
    中国科学院微电子研究所版权所有 邮编:100029
单位地址:北京市朝阳区北土城西路3号,电子邮件:webadmin@ime.ac.cn
京公网安备110402500036号